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工业X.0
GD&T几何公差入门与提高
作者:夏忠定
出版社:电子工业出版社

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书籍信息目录(共75章)
本书内容全面、文字简明、图表数据充实,采用了大量、详细的应用图例,读者可轻松掌握检具或夹具设计的关键知识,提高设计开发效率,降低企业开发、生产成本。

【简介】本书共11章,系统地介绍了GD&T图纸的特点、基本术语和定义。本书详细阐述了GD&T的公差原则,24个公差修饰符号的使用,12个基本公差符号的定义、功能和检测,复合公差。本书采用国际最新标准ASME Y14.5—2018作为依据,内容全面、文字简明、图表数据充实,采用了大量、详细的应用图例,力求增强可读性、易懂性和实用性。读者可以学习掌握传统坐标公差的缺点,12个几何公差的应用(尤其是位置度和轮廓度),独立组合位置度和复合位置度的区别,最大/最小实体要求(MMC/LMC)对产品图纸和成本的影响,实体要求应用在基准上对几何公差的影响,如何实现位置度和轮廓度的测量(包括CMM和功能检具),如何正确理解基准及怎样利用基准建立坐标系等。

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